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西电团队攻克芯片散热世界难题：氮化镓射频芯片性能提升 30% 到 40%

2026-1-17 22:15| 发布者: lizhao8848| 查看: 1| 评论: 0|原作者: lizhao8848

摘要: 新闻来源：华尔街见闻
据西安电子科技大学官方，近日，郝跃院士张进成教授团队的最新研究在这一核心难题上实现了历史性跨越——他们通过将材料间的 “岛状” 连接转化为原子级平整的 “薄膜”，使芯片的散热效率与综合性能获得了飞跃性提升。这个问题自 2014 年相关成核技术获得诺贝尔奖以来，一直未能彻底解决，成为制约射频芯片功率提升的最大瓶颈。工艺的突破直接转化为器件性能的惊人提升。
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